Applying Memory Test to Embedded Systems

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/10923/23439

Tipo:	conferenceObject
Título:	Applying Memory Test to Embedded Systems
Autor(es):	César Augusto Missio Marcon Alexandre Amory Marcelo Lubaszewski Altamiro Amadeu Susin Ney Laert Vilar Calazans Fernando Gehm Moraes Fabiano Passuelo Hessel
En:	5th IEEE Latin-American Test Workshop, 2004, Colômbia.
Fecha de Publicación:	2004
URI:	https://hdl.handle.net/10923/23439
Aparece en las colecciones:	Apresentação em Evento

Ficheros en este ítem:

Fichero	Descripción	Tamaño	Formato
Applying_Memory_Test_to_Embedded_Systems.pdf		374,18 kB	Adobe PDF	Abrir Ver