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Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/10923/22334
Tipo: Article
Título: Structural Characterization of Doped GaSb Single Crystals by X-ray Topography
Autor(es): Hönnicke, M. G.
Mazzaro, I.
Manica, J.
Benine, E.
Eleani Maria da Costa
Berenice Anina Dedavid
Cusatis, C.
Huang, X. R.
En: Journal of Electronic Materials
Fecha de Publicación: 2010
Volumen: 39
Número: 6
Primera página: 727
Última página: 731
Palabras clave: X-ray image
x-ray topography
Lang topography
double-crystal topography
URI: https://hdl.handle.net/10923/22334
DOI: DOI:10.1007/s11664-010-1154-z
ISSN: 0361-5235
Aparece en las colecciones:Artigo de Periódico

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