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Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/10923/18528
Tipo: Article
Título: Conducted EMI susceptibility analysis of a COTS processor as function of aging
Autor(es): Juliano Benfica
Fabian Luis Vargas
Matheus Fay Soares
Dorian Schramm
En: MICROELECTRONICS RELIABILITY
Fecha de Publicación: 2020
Número: 1
Primera página: 113884
Última página: 1
URI: https://hdl.handle.net/10923/18528
DOI: DOI:10.1016/j.microrel.2020.113884
ISSN: 0026-2714
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