Influence of temperature on dynamic fault behavior due to resistive defects in FinFET-based SRAMs

Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/15197

Tipo:	conferenceObject
Título:	Influence of temperature on dynamic fault behavior due to resistive defects in FinFET-based SRAMs
Autor(es):	MEDEIROS, G. BRUM, E. Letícia Maria Bolzani Pöhls Thiago Copetti Tiago Balen
In:	2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium (LATS), 2018, Brasil.
Data de Publicação:	2018
URI:	http://hdl.handle.net/10923/15197
DOI:	DOI:10.1109/latw.2018.8349697
ISBN:	9781538614723
Aparece nas Coleções:	Apresentação em Evento

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