1. Repositório PUCRS
  2. PUBLICAÇÕES CIENTÍFICAS
  3. Apresentação em Evento
Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/15197
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Campo DCValorIdioma
dc.contributor.authorMEDEIROS, G.-
dc.contributor.authorBRUM, E.-
dc.contributor.authorLetícia Maria Bolzani Pöhls-
dc.contributor.authorThiago Copetti-
dc.contributor.authorTiago Balen-
dc.date.accessioned2019-07-26T12:23:33Z-
dc.date.available2019-07-26T12:23:33Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.isbn9781538614723-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10923/15197-
dc.language.isoen-
dc.relation.ispartof2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium (LATS), 2018, Brasil.-
dc.rightsopenAccess-
dc.titleInfluence of temperature on dynamic fault behavior due to resistive defects in FinFET-based SRAMs-
dc.typeconferenceObject-
dc.date.updated2019-07-26T12:23:33Z-
dc.identifier.doiDOI:10.1109/latw.2018.8349697-
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