Combined ionizing radiation & electromagnetic interference test procedure to achieve reliable integrated circuits

Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/18146

Tipo:	Article
Título:	Combined ionizing radiation & electromagnetic interference test procedure to achieve reliable integrated circuits
Autor(es):	Roger Goerl Paulo Villa Fabian Luis Vargas César Augusto Missio Marcon Nilberto H. Medina Nemitala Added Marcilei da Silva
In:	MICROELECTRONICS RELIABILITY
Data de Publicação:	2019
Página Inicial:	113341
Página Final:	113347
URI:	https://hdl.handle.net/10923/18146
DOI:	DOI:10.1016/j.microrel.2019.06.033
ISSN:	0026-2714
Aparece nas Coleções:	Artigo de Periódico

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