Gate-level modelling of NBTI-induced delays under process variations

Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/12195

Tipo:	conferenceObject
Título:	Gate-level modelling of NBTI-induced delays under process variations
Autor(es):	COPETTI, THIAGO MEDEIROS, GUILHERME POEHLS, LETICIA BOLZANI Fabian Luis Vargas KOSTIN, SERGEI JENIHHIN, MAKSIM RAIK, JAAN UBAR, RAIMUND
In:	2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), Brasil.
Data de Publicação:	2016
URI:	http://hdl.handle.net/10923/12195
DOI:	DOI:10.1109/latw.2016.7483343
ISBN:	9781509013319
Aparece nas Coleções:	Apresentação em Evento

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