1. Repositório PUCRS
  2. PUBLICAÇÕES CIENTÍFICAS
  3. Apresentação em Evento
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/10923/12195
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dc.contributor.authorCOPETTI, THIAGO-
dc.contributor.authorMEDEIROS, GUILHERME-
dc.contributor.authorPOEHLS, LETICIA BOLZANI-
dc.contributor.authorFabian Luis Vargas-
dc.contributor.authorKOSTIN, SERGEI-
dc.contributor.authorJENIHHIN, MAKSIM-
dc.contributor.authorRAIK, JAAN-
dc.contributor.authorUBAR, RAIMUND-
dc.date.accessioned2018-07-19T15:07:17Z-
dc.date.available2018-07-19T15:07:17Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.isbn9781509013319-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10923/12195-
dc.language.isoen-
dc.relation.ispartof2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), Brasil.-
dc.rightsopenAccess-
dc.titleGate-level modelling of NBTI-induced delays under process variations-
dc.typeconferenceObject-
dc.date.updated2018-07-19T15:07:16Z-
dc.identifier.doiDOI:10.1109/latw.2016.7483343-
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