Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/12195
Registro Completo de Metadados
Campo DCValorIdioma
dc.contributor.authorCOPETTI, THIAGO-
dc.contributor.authorMEDEIROS, GUILHERME-
dc.contributor.authorPOEHLS, LETICIA BOLZANI-
dc.contributor.authorFabian Luis Vargas-
dc.contributor.authorKOSTIN, SERGEI-
dc.contributor.authorJENIHHIN, MAKSIM-
dc.contributor.authorRAIK, JAAN-
dc.contributor.authorUBAR, RAIMUND-
dc.date.accessioned2018-07-19T15:07:17Z-
dc.date.available2018-07-19T15:07:17Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.isbn9781509013319-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10923/12195-
dc.language.isoen-
dc.relation.ispartof2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), Brasil.-
dc.rightsopenAccess-
dc.titleGate-level modelling of NBTI-induced delays under process variations-
dc.typeconferenceObject-
dc.date.updated2018-07-19T15:07:16Z-
dc.identifier.doiDOI:10.1109/latw.2016.7483343-
Aparece nas Coleções:Apresentação em Evento

Arquivos neste item:
Arquivo Descrição TamanhoFormato 
Gate_level_modelling_of_NBTI_induced_delays_under_process_variations.pdf2,27 MBAdobe PDFAbrir
Exibir


Todos os itens no Repositório da PUCRS estão protegidos por copyright, com todos os direitos reservados, e estão licenciados com uma Licença Creative Commons - Atribuição-NãoComercial 4.0 Internacional. Saiba mais.