1. Repositório PUCRS

Visualizando por Autor Tiago Balen

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Fecha de PublicaciónTítuloAutor(s)
2018Influence of temperature on dynamic fault behavior due to resistive defects in FinFET-based SRAMsMEDEIROS, G.; BRUM, E.; Letícia Maria Bolzani Pöhls, etc.
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