Structural Characterization of Doped GaSb Single Crystals by X-ray Topography

Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/22334

Tipo:	Article
Título:	Structural Characterization of Doped GaSb Single Crystals by X-ray Topography
Autor(es):	Hönnicke, M. G. Mazzaro, I. Manica, J. Benine, E. Eleani Maria da Costa Berenice Anina Dedavid Cusatis, C. Huang, X. R.
In:	Journal of Electronic Materials
Data de Publicação:	2010
Volume:	39
Número:	6
Página Inicial:	727
Página Final:	731
Palavras-chave:	X-ray image x-ray topography Lang topography double-crystal topography
URI:	https://hdl.handle.net/10923/22334
DOI:	DOI:10.1007/s11664-010-1154-z
ISSN:	0361-5235
Aparece nas Coleções:	Artigo de Periódico

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