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Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/10923/18519
Tipo: conferenceObject
Título: Analysis and detection of hard-to-detect full open defects in FinFET based SRAM cells
Autor(es): PEREZ, Z.
MESALLES, JAVIER
VILLACORTA, H.
Fabian Luis Vargas
CHAMPAC, VICTOR
En: 2020 IEEE Latin-American Test Symposium (LATS), 2020, Estados Unidos.
Fecha de Publicación: 2020
URI: https://hdl.handle.net/10923/18519
DOI: DOI:10.1109/LATS49555.2020.9093680
ISBN: 9781728187310
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