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Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/15161
Tipo: conferenceObject
Título: A hardware-based approach for SEU monitoring in SRAMs with weak resistive defects
Autor(es): PINTO, G. REDIVO
MEDEIROS, G. CARDOSO
Fabian Luis Vargas
POEHLS, L. BOLZANI
In: 2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium (LATS), 2018, Estados Unidos.
Data de Publicação: 2018
URI: http://hdl.handle.net/10923/15161
DOI: DOI:10.1109/latw.2018.8349667
ISBN: 9781538614723
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